Метод I (v) спектроскопии

СТМ — I (v) cпектроскопия (or Current Imaging Tunneling Spectroscopy, CITS) предполагает одновременное получение обычного изображения рельефа при фиксированных значениях тока Io и напряжения смещения Vo (рис. 9). В каждой точке изображения обратная связь разрывается, и напряжение смещения проходит ряд значений Vi при этом записываются соответствующие значения тока Ii. Затем напряжение возвращается к Vo и обратная связь включается снова.

Рисунок 9. СТМ — I (v) Спектроскопия Каждая I-V кривая может быть получена за несколько миллисекунд так что дрейф положения зонда не оказывает существенного влияния. Эта процедура генерирует полное токовое изображение Ii (x, y) для каждого значения напряжения Vi в дополнение к изображению рельефа z (x, y)|VoIo. CITS значения могут быть использованы для расчета токового разностного изображения DIVi, Vj (x, y) где Vi и Vj ограничивают частные поверхностные состояния, производя реальное пространственное отображение поверхностных состояний с атомарным разрешением. Эта методика может быть использована, например, в сверхвысоком вакууме для отображения заполненных состояний адатомов или ненасыщенных связей для реконструкций кремния.