Электронный микроскоп. 
Основы цитологии

Позволил сделать принципиально новый шаг вперед в развитии микроскопической техники и, следовательно, микроскопических исследований в биологии и медицине.

• ? В электронном микроскопе видимый свет, как источник изображения объекта микроскопирования, полностью заменен на поток электронов, который с высокой скоростью распространяется в глубоком вакууме, создаваемом в тубусе микроскопа.
• ? Длина волны электромагнитных колебаний при движении электронов в электрическом поле с разницей потенциалов 50 000 вольт равна 0,006 нм. Эта величина позволяет изучать объекты с предельно минимальными размерами приблизительно 0,003 нм (0,3 мкм), т. е. разрешающая способность электронного микроскопа в 100 000 раз выше, чем у светового микроскопа.
• ? Электроны обладают высокой проникающей способностью, поэтому для получения интерференции (взаимоналожение волн с результирующим эффектом их усиления или ослабления), необходимой для восприятия изображения объект изучения (срез) контрастируют (см. ниже).
• ? Электронная «интерференционная картина» глазом человека не воспринимается, поэтому она первоначально отбрасывается на флюоресцирующий экран или на фотопленку, что позволяет получить зрительный «образ» объекта изучения.
• ? Современные мегавольтные электронные микроскопы интегрируются с компьютерными системами, позволяющими переводить электронно-микроскопическое изображение в цифровую форму со сверхвысоким разрешением.

Существует два типа электронных микроскопов: трансмиссионные (ТЭМ) и сканирующие (СЭМ).

• — ТЭМ использует возможность проникновения электронов в биологический объект, что позволяет получить плоскостное изображение структуры;
• — СЭМ используют эффект отражения электронов от поверхности объекта исследования, чем обеспечивается объемность изображения объекта изучения.