Бакалавр
Дипломные и курсовые на заказ

Эффекты влияния матрицы при атомно-эмиссионном определении примесей токсичных и лимитируемых элементов в соединениях бора, мышьяка, селена, железа и марганца

Диссертация: Эффекты влияния матрицы при атомно-эмиссионном определении примесей токсичных и лимитируемых элементов в соединениях бора, мышьяка, селена, железа и марганца
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Основные результаты работы доложены на ХХП Съезде по спектроскопии (Заречный, 2001 г.), Ш Международном симпозиуме «Контроль и реабилитация окружающей среды» (Томск, 2002 г.), Всероссийской конференции с международным участием «Актуальные проблемы аналитической химии» (Московская обл., 2001 г.), Всероссийской конференции «Аналитика России» (Московская обл., 2004 г.), Всероссийской… Читать ещё >

Содержание

  • 1. Эффекты взаимного влияния элементов при атомно-эмиссионном анализе с использованием дуговой плазмы (литературный обзор)
    • 1. 1. Интенсивность спектральной линии как функция содержания элементов в пробе
    • 1. 2. Общие закономерности влияния состава на интенсивность линий элементов при возбуждении спектра
      • 1. 2. 1. Влияние электронной концентрации и температуры разряда на интенсивность линий
      • 1. 2. 2. Аксиальная и радиальная неоднородность столба дуговой плазмы при изменении ее состава
      • 1. 2. 3. Изменение процессов массопереноса и среднего времени пребывания частиц в плазме дугового разряда
    • 1. 3. Влияние состава пробы на интенсивность линий примесей на стадии парообразования
      • 1. 3. 1. Термохимические реакции в кратере электрода
      • 1. 3. 2. Фракционное испарение
    • 1. 4. Устранение влияния состава на интенсивность линий примесей

Эффекты влияния матрицы при атомно-эмиссионном определении примесей токсичных и лимитируемых элементов в соединениях бора, мышьяка, селена, железа и марганца (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Возрастающие масштабы антропогенного воздействия на природу с особой остротой выдвигают проблему организации систем наблюдения и контроля содержания токсикантов в природных средах, а также обнаружения токсической опасности химических продуктов и материалов, выпускаемых промышленностью. Так, установление соответствия продукции различного назначения санитарно-гигиеническим нормативам и государственным стандартам качества связано с необходимостью контроля содержания в них токсичных примесей. Жесткие требования по чистоте материалов предъявляет наряду с оптоволоконной, электронной техникой и пр. производство изделий и приборов медицинского назначения. При решении экологических проблем — утилизации или изоляции от окружающей среды промышленных отходов — также возникает задача идентификации и количественного определения токсикантов-загрязнителей.

Методом массового аналитического контроля содержания токсичных и лимитируемых примесей в различных материалах является атомно-эмиссионный анализ. Из традиционных источников света, применяемых в настоящее время в атомно-эмиссионном анализе порошковых материалов, дуговой разряд между графитовыми электродами является самым распространенным. Это объясняется как сравнительно низкими пределами одновременного обнаружения большого числа элементов из одной навески, так и возможностью применения этого разряда для возбуждения спектра проб с самыми разнообразными химическими свойствами. К достоинствам атомно-эмиссионного спектрального анализа с использованием данного источника относятся как простое аппаратурное оформление, так и экспрессность анализа.

Исследованию дугового разряда и его аналитических возможностей посвящено большое число работ. Но вследствие многообразия и сложности процессов, происходящих в этом источнике, некоторые вопросы до настоящего времени остаются не выясненными. Так, основной трудностью, ограничивающей возможности атомно-эмиссионного анализа, является взаимное влияние элементов на интенсивность линий, что приводит к неконтролируемым ошибкам при определении концентраций примесных элементов в пробах непостоянного состава.

Причина этих влияний заключается в сложных процессах, происходящих в источниках излучения, невоспроизводимости этих процессов при переходе от пробы к пробе. Несмотря на то, что изучению взаимного влияния посвящено большое число исследований, данная проблема еще не решена и является одной из наиболее сложных задач атомно-эмиссионного анализа.

Устранение влияний, а также их использование для решения актуальных проблем атомно-эмиссионного анализа, таких как снижение пределов обнаружения, увеличение точности и др. может быть успешным только при полном понимании сущности процессов, протекающих при возбуждении спектра. В связи с этим необходимо детальное изучение эффектов влияния матрицы в реальных системах, формирующихся при проведении атомно-эмиссионного анализа с привлечением порошкового графита (универсальной модифицирующей добавки или коллектора примесей). Такие системы формируются при определении микропримесей в соединениях бора, мышьяка, селена, железа, марганца. Настоящая работа посвящена изучению матричного влияния и разработке методик определения токсичных и лимитируемых примесей в материалах на их основе.

Выбор объектов исследования обусловлен широким применением их в процессе очистки воды, изготовления прэмиксов, в парфюмерной, фармацевтической, оптоволоконной и электронной промышленности, а также в связи с задачей по классификации опасности отходов производств. Результаты исследований направлены на решение таких актуальных проблем атомно-эмиссионного анализа, как снижение пределов обнаружения и увеличение точности определения токсичных и лимитируемых элементов.

Настоящая работа посвящена изучению матричного влияния при определении токсичных и лимитируемых микропримесей в соединениях бора, мышьяка, селена, железа, марганца и поэтому является актуальной.

Работа выполнена по заданию Министерства образования РФ в рамках НИР тематического плана «Теоретико-экспериментальные исследования в области методов анализа токсикантов в объектах окружающей среды. Разработка научных основ переработки отходов и другого нетрадиционного химического сырья» Нижегородского государственного университета им. Н. И. Лобачевского.

Проведенное исследование относится к проблемам, решаемым с помощью химической аналитики, входящей в перечень основных направлений фундаментальных исследований в области химической науки и науки о материалах, утвержденный Постановлением Президиума РАН в июле 2003 г.

Целью работы является изучение эффектов влияния матричного компонента и разработка на этой основе методик атомно-эмиссионного определения токсичных и лимитируемых примесей в бор-, мышьяк-, селен-, железои марганецсодержащих материалах для обеспечения экологической безопасности человека и природной среды.

Задачи работы.

1. Изучить влияние матричного компонента на результаты атомно-эмиссионного определения примесей тяжелых металлов и ряда лимитируемых элементов в формируемых при выполнении анализа системах с порошковым графитом (универсальной модифицирующей добавкой либо универсальным коллектором примесных элементов).

2. Исследовать закономерности и выявить факторы, ответственные за особенности изменения аналитического сигнала микропримесей в зависимости от содержания мышьяка, селена, бора, железа или марганца.

3. Предложить и обосновать способы устранения влияния матричного компонента при решении задач по аналитическому и экологическому контролю исследуемых объектов над содержанием примесей лимитируемых и токсичных элементов.

4. Разработать методики определения токсичных и лимитируемых примесей в ряде бор— мышьяк-, селен-, железои марганецсодержащих материалов, отвечающие современным требованиям по уровню технической и экологической безопасности.

Научная новизна работы.

Для обеспечения достоверности количественного определения и снижения пределов обнаружения впервые установлены закономерности изменения интенсивности линий примесей тяжелых металлов в бинарных аналитических системах на основе соединений бора, мышьяка, селена, железа и марганца.

Показано, что независимо от сложности спектра найденные закономерности имеют нелинейный характер с появлением максимума при невысоких концентрациях исследуемых матриц.

Выявлены спектроскопические факторы, ответственные за формируемые закономерности: изменение температуры дуговой плазмы и характера парообразования в процессе возбуждения спектра, а также уровня сплошного фона, проявляющегося в зависимости от вида матрицы и ее концентрации в изучаемых системах.

Практическая значимость работы.

Установленные закономерности влияния переменных количеств матричного компонента, а также данные по устранению неблагоприятного воздействия этого эффекта могут быть использованы для улучшения метрологических характеристик при разработке методик атомно-эмиссионного анализа на содержание токсичных и лимитируемых элементов.

Полученные результаты использованы нами при разработке эффективных методик анализа отходов металлургического производства соединений бора, мышьяка, селена, железа и марганца, применяемых в качестве препаратов для очистки воды (хлорид железа (Ш)), в парфюмерной и фармацевтической (диметиламинборан, борная кислота), электронной (оксид железа (Ш)) отраслях промышленности, марганецсодержащих прэмиксах, для целей волоконной оптики (металлический мышьяк, селен элементарный).

Результаты работы внедрены и используются для аналитического и экологического контроля различных материалов в Испытательном лабораторном центре НИИ Химии, а также в учебном процессе кафедры фотохимии и спектроскопии химического факультета Нижегородского государственного университета им. Н. И. Лобачевского.

На защиту выносятся 1. Закономерности изменения интенсивности линий примесей тяжелых металлов и лимитируемых элементов в присутствие переменных содержаний мышьяка, селена, оксидов бора, железа и марганца в бинарных системах с порошковым графитом.

2. Выявленные факторы, ответственные за наблюдаемые эффекты матричного влияния на интенсивность линий микропримесей при их определении в исследуемых системах. Экспериментально установленные данные по значимости процессов изменения парообразования и условий возбуждения спектра микропримесей при введении в дуговую плазму аналитических систем с переменным содержанием основного компонента.

3. Рекомендации по ослаблению негативного влияния матрицы, искажающего на 100 — 1000% результаты атомно-эмиссионного определения токсичных и лимитируемых примесей.

4. Методические разработки по определению токсичных и лимитируемых примесей в В-, Ав-, Бе-, Бе-, Мп-содержащих материалах в 3 — 50 раз ниже уровня нормируемых (10−4-10~8% мае.) и экологически безопасных (0.01 — 0.001 мг/кг) концентраций .

Апробация работы.

Основные результаты работы доложены на ХХП Съезде по спектроскопии (Заречный, 2001 г.), Ш Международном симпозиуме «Контроль и реабилитация окружающей среды» (Томск, 2002 г.), Всероссийской конференции с международным участием «Актуальные проблемы аналитической химии» (Московская обл., 2001 г.), Всероссийской конференции «Аналитика России» (Московская обл., 2004 г.), Всероссийской научно-технической конференции «Методы и средства измерений» (Нижний Новгород, 2001 г.), Ш и IV Конференции молодых ученых Нижнего Новгорода (Нижний Новгород, 2000 и 2001 гг.), 7-ой Нижегородской сессии молодых ученых (Нижегородская обл., 2002 г.) и региональной конференции «Проблемы теоретической и экспериментальной аналитической химии» (Пермь, 2002).

Выводы.

1. Изучены зависимости интенсивности линий микропримесей токсичных и лимитируемых элементов от их концентрации в системах с варьирующимся составом на основе соединений бора, мышьяка, селена, железа и марганца, а также модифицирующей добавки или коллектора примесей в виде порошкового графита. Отмечено, что присутствие неконтролируемых количеств матричного компонентов в изучаемых системах, приводит к появлению систематических погрешностей величиной от 100 до 1000%.

2. Установлены закономерности изменения интенсивности спектральных линий с различными характеристиками при определении токсичных и лимитируемых примесей в присутствии матричных компонентов, формирующих простой (мышьяк, селен), многолинейчатый (железо, марганец), или молекулярный (бор) спектры. Показано, что образование максимума интенсивности на полученных зависимостях обусловлено улучшением «качества» процесса парообразования, вызванного истечением из электрода оптимального потока газов, образующегося в результате термохимических реакций или перехода летучих матриц в парообразное состояние или разложения менее летучих.

3. Проведены исследования по устранению матричных влияний при определении примесей тяжелых металлов и лимитируемых элементов в бор-, мышьяк-, селен-, железои марганецсодержащих материалах. Предложен ряд практических рекомендаций по улучшению основных метрологических характеристик атомно-эмиссионного анализа изучаемых объектов.

4. В развитие проведенных исследований разработаны методики эффективного контроля.

— материалов на основе железа и марганца, содержащихся в отходах металлургического производства, а также применяемых в процессе очистки воды и изготовления прэмиксов.

— мышьяка металлического и селена элементарного, испозьзуемых при изготовлении халькогенидных стекол для приборов медицинского назначения.

— соединений бора, применяемых в медицине, фармацевтической и парфюмерной промышленности.

Разработанные методики позволяют надежно определять примеси тяжелых металлов (0.01 — 0.001 мг/кг) и лимитируемых элементов (10~4 — 10″ 8% мае.) на уровне предельно допустимых, а также нормируемых концентраций.

Методики отличаются достаточной экспрессностью и доступностью. Они опробованы на промышленных образцах и внедрены в практику работы Испытательного лабораторного центра НИИ Химии Нижегородского университета им. Н. И. Лобачевского.

Заключение

.

Постановка настоящего исследования вызвана необходимостью преодоления трудностей, вызванных неблагоприятным матричным влиянием на результаты агомно-эмиссионных определений токсичных и лимитируемых примесей в материалах, содержащих бор, мышьяк, селен, железо или марганец. Соединения этих элементов находят широкое применение в парфюмерной, фармацевтической промышленности, при изготовлении прэмиксов, удобрений, препаратов для очистки воды, изготовлении медицинской техники и т. д. В связи с этим, необходим контроль над содержанием в них токсичных и лимитируемых примесей, которое строго регламентируется, на уровне экологически и технически безопасных концентраций.

В целях обеспечения правильности анализа и достижения необходимых пределов обнаружения нами впервые изучены закономерности изменения интенсивности линий тяжелых металлов в реальных бинарных системах, формирующихся в процессе проведения атомно-эмиссионнош анализа: матричный компонент — графит порошковый. Установлены значительные изменения в положении градуировочных зависимостей для определения токсичных элементов во всех рассматриваемых системах, содержащих переменных количества матрицы. Показано, что при этом возникают систематические определения токсичных и лимитируемых примесей, величина которых достигает 100−1 ООО %.

Для повышения достоверности количественных определений токсикантов проведены исследования по устранению неблагоприятного влиянии изучаемых матриц. На основании проведенных исследований разработаны методики эффективного контроля исследованных соединений, удовлетворяющие требованиях экологической и технической безопасности их использования. Примененные в данном исследовании подходы целесообразно употреблять при анализе других материаловуспешное устранение негативного влияния любой иной матрицы возможно на основе знаний о закономерностях изменения интенсивности линий определяемых элементов в реальных аналитических системах.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Спектральный анализ чистых веществ // Под. ред. X. И. Зильберштейна-СПб: Химия, 1994. — 336 с.
  2. Rost L. Physikalische Ursachen des matrixeffektes bei der Spektralanalyse im gleichstrombogen /Rost L. //Acta chim. Acad. scient, hung. 1969. — Vol. 61, No 3. — P. 271−277.
  3. E. В. Взаимное влияние элементов при спектральном анализе порошковых проб в угольной дуге/ Ильина Е. В., Гольдфарб В. M.-JL: ЛДНТП, 1963. 24 с.
  4. В. JI. Зависимость интенсивности спектральных линий от эффективного ионизационного потенциала дуги/ В. JI. Гинзбург, Н. П. Глуховецкая //Оптика и спектроскопия. 1962. — Т. 12, вып. 3. — С. 344 349.
  5. Г. В. Влияние натрия и цинка на относительную интенсивность аналитических пар линий олова и меди в дуге/ Г. В. Овечкин //Журн. аналит. химии. 1962. — Т. 17, вып. 1. — С. 31−38.
  6. Tripcovic' M. Влияние анионов при спектрохимическом определении следовых концентраций в дуговом разряде/ M. Tripcovic', V. Vucanovic' // Spectrochim. acta. 1971. — Vol. B26, № 2. — P. 131−136.
  7. JI. H. К обоснованию возможности подавления влияния третьих элементов при спектральном анализе на стадиях диссоциации и ионизации/ JI. Н. Филимонов, Е. А. Лаврова //Сб. научн. тр. НИИ цвет, мег. М.: 1971. — № 34. — С. 95−109.
  8. Frisque A. J. Causes and Control of Matrix Effects in Spectrographic Discharges/ A. J. Frisque // Analyt. Chem. 1960. — Vol. 32, № 11. — P. 14 841 488.
  9. M. А. Влияние состава пробы на распределение температуры по радиусу дуги/ М. А. Алексеев, Е. А. Комарова // Спектроскопия. Методы и применение М., 1964. -С. 34−39.
  10. С. К. Эмиссионный спектральный анализ минерального сырья/ С. К. Калинин, Э. Е. Файн М.: Недра, 1969. — 248 с.
  11. О. П., Левченко М. А. Влияние легкоионизуемых примесей на излучение дугового разряда // Мат-лы четвертого Уральского совещания по спектроскопии. Свердловск, 1965. — С. 13−17.
  12. Е. Ю. Зависимость интенсивности спектральных линий от состава веществ, испаряемых в дуге переменного тока / Е. Ю. Пантелеева, А. К. Русанов // Журн. прикл. спектроскопии. 1972. — Т. 17, вып. 2. — С. 192−196.
  13. А. Энергии диссоциации и спектры двухатомных молекул/ А. Гейдон. М.: Изд. иностранной лит-ры, 1949. — 302 с.
  14. А. К. Низкотемпературная угольная дуга как источник возбуждения спектра рубидия, цезия, таллия и индия при спектральном анализе силикатов/ А. К. Русанов, В. Г. Хитров, Н. Т. Батова// Журн. аналит. химии. 1959. — Т. 14, вып. 5. — С. 534 — 540.
  15. Самсонова 3. Н. К вопросу о механизме влияния «носителей» на интенсивность спектральных линий/ 3. Н. Самсонова //Оптика и спектроскопия. 19 962. — Т. 12, вып. 4. — С. 46672.
  16. Ю. M. О некоторых особенностях распределения частиц в дуге переменного тока/ Ю. М. Алесковский // Мат-лы второго Уральского совещания по спектроскопии. Свердловск, 1959. — С. 29−35.
  17. П. П. Исследование влияния легкоионизируемой добавки на распределение частиц вещества в плазме дуги при испарении естественных образцов/ П. П. Полатбеков, И. А. Жуков //Журн. прикл. спектроскопии. 1973. — Т. 18, вып. 3. — С. 386−390.
  18. De Galan L. Distribution of elements in d.c. carbon arc/ L. De Galan //J. Quant. Spectr. Radiativ. Transf. 1965. — Vol. 5, № 6. — P. 73.
  19. И. А. Влияние примесей на температуру дугового разряда в водороде, азоте и аргоне/ И. А. Кринберг // Спектроскопия. Методы и приложения: Сб. ст./ Наука.- М., 1969. С. 304.
  20. Н. А. К вопросу о механизме саморегулирования непроточного дугового разряда / Н. А. Бокова // Прикладная спектроскопия. Т. 1.: Сб. ст./ Наука.- М., 1969. С. 170−172.
  21. Я. Д. Возможные причины влияния химического состава проб на интенсивность спектральных линий / Я. Д. Райхбаум // Спектральный анализ в цветной металлургии. М., 1960. — С. 239−246.
  22. Я. Д. Проблемы повышения точности и чувствительности спектрального анализа порошковых проб/ Я. Д. Райхбаум // Заводск. лаборатория. 1962. — Т. 28, № 2. — С. 173−175.
  23. Устранение влияния состава проб при спектральном анализе химических реактивов / Лазебная Г. В., Юделевич И. Г., Мамонтова JI. И. и др. //Изв. Сиб. отд. АН СССР. Сер. х. н. -1967. №.12, вып. 5. — С. 48−54.
  24. К. В. О построении единого градуировочного графика при спектральном анализе силикатов/ К. В. Дубовик, M. М. Павлюченко // Журн. аналит. химии. 1965. — Т. 20, вып. 4. — С. 426−431.
  25. Ю. А. Выбор спектроскопического буфера в связи с диаграммой плавкости/ Ю. А. Пролесковский, В. М. Акулович, M. М. Павлюченко //Журн. прикл. спектроскопии.- 1968. Т. 7, вып. 5. — С. 877 -879.
  26. Ю. А. Испарение компонентов систем Си20 БЮг, Sn02-Si02, ZrC>2-Si02 в дуговом источнике и интенсивность линий примеси/ Ю. А. Пролесковский, В. М. Акулович //Изв. Сиб. отд. АН СССР. Сер х. н-1967.- № 9, вып. 4. — С. 155 — 158.
  27. В. М. Испарение компонентов систем Cu20 Si02, Sn02-Si02, Zr02-Si02 в дуговом источнике и интенсивность линий примеси. В. М. Акулович, Ю. А. Пролесковский, К. В. Дубовик // Там же. — С. 158 -160.
  28. Ю. А. Поведение линии примеси в связи с диаграммой т -ж для некоторых систем окислов и солей/ Ю. А. Пролесковский, В. М. Акулович //Изв. АН БССР. Сер. хим. н. 1967. — № 5. — С. 51−55.
  29. Ю. А. Влияние состава некоторых бинарных систем окислов на атомный спектр примесей/ Ю. А. Пролесковский, В. М. Акулович, M. М. Павлюченко // Калийные соли и методы их переработки-Минск, 1963. С. 133−139.
  30. Н. Ф. О влиянии химического состава проб на интенсивность спектральных линий некоторых элементов/ Н. Ф. Абашидзе // Тр. метрол. ин-тов СССР. -1968. вып.96. — С. 165−172.
  31. Е. Н. О влиянии состава пробы и условия испарения на интенсивность спектральных линий ниобия, тантала, олова и свинца/ Е. Н. Лесникова, В. К. Ренев, И. Н. Маренкова // Мат-лы четвертого
  32. Уральского совещания по спектроскопии Свердловск, 1965. — С. 152 153.
  33. Я. Д. Способ представления кривых испарения при спектральном анализе/ Я. Д. Райхбаум, А. Ф. Лосева, М. А. Лужкова // Журн. прикл. спектроскопии. 1969. — Т. 14, № 4. — С. 571−574.
  34. Е. И. О повышении чувствительности определения платиновых металлов/ Е. И. Павленко, А. В. Карякин, Л. В. Симонова // Журн. аналит. химии. 1971. — Т. 26. — С. 934 — 938.
  35. Е. В. Распределение вещества в межэлектродном пространстве дугового разряда при различном составе плазмы/ Е. В. Ильина, В. М. Гольдфарб //Прикладная спектроскопия. Т. 1.-М., 1969.-С. 178−1183.
  36. Э. Я. Об одной интерпретации формулы Ломакина-Шайбе / Э. Я. Огнева, Я. Д. Райхбаум, В. Р. Огнев // Журн. прикл. спектроскопии. -1975. Т. 17, вып. 6. — С. 962−966.
  37. Boumans P. W. J. М. Theory of Spectrochemical Exitation. / P. W. J. M. Boumans New York: Plenium Press, 1966. — 368 p.
  38. Boumans P. W. J. M. Theoretical calculations of the transport of metal vapour through the discharge column of direct current arc/ P. W. J. M. Boumans, L. De Galan //Anal. Chem. 1966. — Vol. 38. — P. 674−681.
  39. А. И.Влияние длины разрядного промежутка и силы тока дуги на чувствительность определения элементов при спектральном анализе/ А. И. Кузнецова, Я. Д. Райхбаум, В. Д. Малых //Журн. прикл. спектроскопии. 1969. — № 10. — С. 393−399.
  40. Bril J. Sur la vitesse de transfert des particules arrachees aux electrodes d' un arc spectrographique au carbone/ J. Bril //C. r. Acad. Sci. 1967. — Vol. 225, № 23.-P. 1277−1279.
  41. Я. Д. Изучение и применение при спектральном анализе струйного течения паров в электрической дуге/ Я. Д. Райхбаум, Е. С. Костюкова //Журн. прикл. спектроскопии. 1966. — Т. 4, вып. 2. — С. 188— 194.
  42. Г. T. Влияние матричного вещества на среднее время пребывания атомов ванадия, ниобия и тантала в плазме дуги постоянного тока/ Г. Т. Вигант, К. А. Семененко, Н. И. Тарасевич //Журн. аналит. химии. 1975. -№ 6.-С. 1223−1224.
  43. Я. Д. Спектроскопический способ изучения диффузии атомов в электрической дуге/ Я. Д. Райхбаум, В. Д. Малых //Опт. и спектроскопия.- 1960. Т. 9, № 4. — С. 425 — 427.
  44. В. М. Определение среднего времени пребывания атомов и коэффициенов диффузии в плазме дугового разряда/ В. М. Гольдфарб, Е. В. Ильина //Опт. и спектроскопия. 1961. — Т. 11. — С. 445−451.
  45. В. М. Распределение вещества в межэлектродном пространстве дугового разряда при различном составе плазмы / В. М. Гольдфарб, Е. В. Ильина // Прикладная спектроскопия. -М.: Наука. 1969. -С. 172−178.
  46. Среднее время пребывания атомов титана, циркония и гафния в плазме дуги постоянного тока/ А. А. Семенова, В. Д. Малых, Ю. Я. Кузяков, К. А. Семененко //Журн. аналит. химии. 1979. — Т. 34, № 8. — С. 1445−1449.
  47. Boumans P. W. J. M. Efficienty of sample transport from electrode cavity to the exitation zone of gas-stabilized d. c. arc for spectrochemical analisis / P. W. J.
  48. M. Boumans, F. J. M. J. Maessen //Appl. Spectrosc. 1970. — V. 24, № 2. -P. 241−245.560 массопереносе в газовом разряде/ Я. Д. Райхбаум, М. Лувсандорж, В. Д.
  49. , Е. В. Смирнова // Изв. вузов. Физика. 1973. — № 11. — С. 77−81. 57.3ахария Н. Ф. Исследование термохимических процессов в спектральном анализе/ Н. Ф. Захария, О. П. Турулина, Н. А. Фуга //Изв. АН СССР. Сер. физ. — 1963. — Т. 27, № 1. — С. 4−5.
  50. В. Л. Повышение чувствительности спектральных определений примесей в селене/ В. Л. Гинзбург, Н. П. Глуховецкая, Л. А. Лернер //Заводск. лаборатория. 1962. — Т. 28, № 6. — С. 682−684.
  51. А. М. О природе влияния состава неметаллических веществ на интенсивность и относительную интенсивность спектральных линий в активизированной дуге между медными электродами/ А. М. Шаврин // Уч. зап./ Пермск. ун-т. 1968. — № 178. — С. 293−302.
  52. Я. Д. Химические процессы в плазме дугового разряда/ Я. Д. Райхбаум, Е. В. Костюкова //Спектральный анализ в геологии и геохимии: Мат-лы П Сибирского совещания по сп-ии М., 1967. — С. 6−10.
  53. Scroll Е. Uber die Anwendung Thennochemischer Reacktionen in der emissionnpektrographischen Spurenanalyse und ihre Bedeutung fur den Carrierffect/ E. Scroll // Z. anal. Chem. 1963. — Bd 198, H. 1. — S. 40−45.
  54. Nickel H. Ehermochemische Reaktionen hochem peraturstabiler Verbindungen ubergangselemente in Graphitelectroden beim Abbrand im Licgtbogen unter Stick-bzw. Argon-Atmosphare/ H. Nickel // Z. anal. Chem. 1970. — Bd. 249. — S. 353.
  55. Rautschke R., Holdefleiss M. EinFluss chemischer Reaktionen in Kohleelektrodenauf die Intensitat Spectrallien//Spectrochim. acta. 1967. -Vol.23B, No2.-P. 55−66.
  56. Bril J. Contribution a' l’etude des phenomenes thermochimiques accompagnant la volatilisation des substances mises en oeuvre dans Гаге spectrographiquecas des melanges oxydes-graphite //Spectrochim. acta. 1968. — Vol. 23B, No 6.-P. 375−388.
  57. Nickel H. Considerations jn the reaction and evaporation mechanism oxide -contaning graphite electrodes during arc exitation//Spectrochim. acta. 1968. -V.B. 23.-P. 323−343.
  58. Rajic S. R. High-Temperature Reactoins in Sistem of Interest for Spectrochemical Analysis/ S. R. Rajic // Z. Anal. Chem. 1969. — V. 246. — P. 181−183.
  59. A. К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов/ А. К. Русанов- М.: Недра, 1978. 400 с.
  60. А. К. Зависимости интенсивности спектральных линий от летучести составных частей руды в угольной дуге/ А. К. Русанов// Изв. АН СССР. 1941. — № 2−3. — С. 235−240.
  61. Н. Г. Влияние состава основы на интенсивность спектральных линий элементов примесей при анализе растений и почвенных образцов/ Снопов Н. Г.// Журн. прикл. спектроскопии. 1968. — Т. 9, вып. 6. — С. 919 -922.
  62. Е. Ю. Зависимость интенсивности спектральных линий от состава веществ, испаряемых в дуге переменного тока/ Е. Ю. Пантелеева, А. К. Русанов // Журн. прикл. спектроскопии. 1972. — Т. 17, вып. 2. — С. 193 -196.
  63. Г. И. Об устранении влияния состава на результаты количественного спектрального/ Г. И. Кибисов, Н. Т. Антропов // Журн. аналит. химии. -1962. Т. 17, вып. 2. — С. 155−158.
  64. Е. А. О влиянии породообразующих компонентов пробы на хлоридную возгонку примесей редких металлов при их спектрографическом определении/ Е. А. Пометун, А. Н. Копп, Э. П. Ромайкина // Журн. аналит. химии. 1969. — Т. 24, вып. 4. — С. 522−526.
  65. А. А. Применение двух параллельных топохимических реакций для повышения чувствительности спектрографического опредления циркония в молибдене/ А. А. Фришберг //Журн. прикл. спектроскопии. -1966. Т. 5, вып. 1. — С. 12−15.
  66. M. M. Влияние третьих компонентов на интенсивность спектральных линий лития, рубидия, меди, бария, стронция, марганца/ М. М. Павлюченко, Б. О. Филонов // Ин-т общ. и нерг. химии АН СССР: Сб. научн. работ/ Минск, 1961. С. 27−30.
  67. Н. Исследование матричного эффекта при возбуждении атомно-эмиссионных спектров магнезитов/ Н. Плиешовска, Ж. Рыбарова //Collect. Czechosl. Chem. Communs. 1965. — T. 30. — С. 1303−1310.
  68. A. Б. Спектральный анализ много компонентных систем с высоким и переменнным содержанием составляющих/ А. Б. Шаевич // Мат-лы второго Уральского совещания по спектроскопии. Свердловск, 1959.-С. 79−86.
  69. В. М. Термодинамический подход к выбору термохимического реагента при спектральном определении W в минеральном сырье / В. М. Пуховская, Е. Н. Савинова // Журн. аналит. химии. 1984. — Т. 39, вып. 5. -С. 842−846.
  70. В. М. Снижение влияния основы при определении редких элементов атомно-эмиссионным методом / В. М. Пуховская, Е. Н. Савинова, К. И. Тобелко // Журн. аналит. химии. 1988. — Т. 43, вып. 4. -С. 624−628.
  71. Decker R. S. De arc in emission spectrography IV: coiTection for matrix effects / R. S. Decker, D. L. Eve/ /Appl. Spectrosc. 1969. — V. 23, № 5. — P. 497 501.
  72. Pravceva Chr. Выбор буфера для спектрографического определения легколетучих элементов в порошковых пробах с повышенным содержанием железа / Chr. Pravceva, P. Ganev, A. Delijska //Докл. болт. АН. 1971. — T. 24, № 7. — С. 893−896.
  73. Э. Е. Спектрографическое определения рения и осмия в рудах/ Э. Е. Файн // Веспшк АН КазССР. 1964. — № 2. — С. 54−59.
  74. Е. Ю. Спектральный анализ зерен различных минералов/ Е. Ю. Пантелеева, А. К. Русанов, В. А. Гостева // Журн. аналит. химии. -1973. Т. 18, вып. 3. — С. 577−585.
  75. Э. Н.Сравнительное изучение спектроскопических буферов при количественном анализе порошкообразных материалов/ Э. Н. Северин, А. В. Павлухина// Прикладная спектроскопия М. Наука. — 1969. — С. 418 424.
  76. Э. Е. Спектральный анализ глин на основные компоненты/ Э. Е. Вайнпггейн, Т. Ф. Боровик-Романова, В. В. Королев // Журн. аналит. химии. 1965. — Т. 10, вып. 3. — С. 158−163.
  77. Webber G. R. Spectrochemical analisis for some major and minor elements in rocks/ G. R. Webber, J. U. Jeliema // Appl. Spectroscopy. 1962. — Vol. 16, № 4.-P. 133−136.
  78. T. M. Влияние состава основы на поступление щелочных примесей в облако разряда при введении в силикатную систему легколетучих примесей/ Т. М. Ульянова, M. М. Павлюченко, JI. И.
  79. Смирнова // Журн. прикл. спектроскопии. 1972. — Т. 17, вып. 2. — С. 197 201.
  80. А. А. Корреляционный спектральный анализ веществ. Анализ конденсированной фазы/ А. А. Петров, Е. А. Пушкарева. СПб: Химия, 1993.-344 с.
  81. А. И. Статистические методы подбора элементов сравнения при эмиссионном спектральном анализе порошковых проб в условиях матричного эффекта / А. И. Кузнецова, Т. Е. Моргулис //Журн. аналит. химии. 1983. — Т. 38, вып. 9. — С. 1557−1562.
  82. Paksy L. A. general and economic method for the elimination of the interelement effect in emission spectrometry/ L. A. Pasky // Colloq. Spectroscohic. Int 16. Heidberg, 1971. London, 1971. — P. 393−398.
  83. JI. И. Опыт количественного учета влияния третьих составляющих/ Топалов JI. И. // Мат-лы третьего Уральского совещания по спектроскопии. Свердловск, 1962. — С. 31−38.
  84. Ю. М. Об основных особенностях влияния «третьих элементов при спектральном анализе сталей // Там же. С. 39 — 41.
  85. Межлабораторные расхождения и их структура при анализе простых твердых высокочистых веществ/ И. Д. Ковалева, С. Г. Краснова, Ю. Б. Макаров, С. В. Яньков //Высокочистые вещества. 1987. — № 2. — С. 147 158.
  86. Л. Л. Определение примесей в окиси бора спектральным методом/ Л. Л. Баранова, М. Г. Назарова, Г. А. Ходина // Научн. тр. / Н.-и. и проектн. ин-т редкомет. пром-ти. 1982. № 111. — С. 106 -108.
  87. Н. И. Химико-спектральный метод определения примесей марганца, молибдена, вольфрама и тантала в элементарном боре высокой чистоты/ Н. И. Тарасевич, А. А. Железнова. // Журн. аналит. химии, -1963.-Т. 18, вып. 11.-С. 1945−1948.
  88. К. К. Химико-спектральное определение М§-, 81, А1, Си, РЬ, Р, Аб, Мо, Иа в боре/ К. К. Попков, А. С. Кудрявцева. // Там же. С. 486 -487.
  89. В. И. Спектральное определение примесей в кристаллиеском боре/ В. И. Забияко // Заводск. лаборатория. 1964. — Т. 30, № 9. — С. 1084 -1085.
  90. Химико-атомно-эмиссионное определение примесей в борной кислоте высокой чистоты/ В. 3. Красильщик, О. Г. Жителева, Е. Ю. Шлякова, М. С. Чупахин // Журн. аналит. химии. 1988. — Т. 43, вып. 6. — С. 1008 -1011.
  91. Е. Н. О поведении молекулярных спектров соединений бора и алюминия в дуговом разряде/ Е. Н. Лесникова, Г. П. Скорняков, А. Ф. Янушкевич // Мат-лы пятого Уральского совещания по спектроскопии/ Свердловск, 1967. С. 33 — 34.
  92. Оничева (Лебедева) Р. В. Атомно-эмиссионное определение примесей токсичных элементов в борной кислоте и оксиде бора с использованием концентрирования/ Р. В. Оничева, А. Н. Туманова, Н. И. Машин//
  93. Методы и средства измерений»: Материалы третьей Всероссийской научно-технической конференции. / Нижний Новгород, 2001. С. 24.
  94. Р. В. Повышение правильности атомно-эмиссионного определения примесного состава в высокочистом мышьяке и его соединениях/ Р. В. Лебедева // Тез. докл. 7-ой Нижегородской сессии молодых ученых. Н. Новгород, 2002. — С. 175 -176.
  95. Определение примесей токсичных элементов в диметиламинборане при их концентрировании для атомно-эмиссионного анализа. Журн. прикл. спектр./ Р. В. Лебедева, Н. Н. Вышинский, А. Н. Туманова, Н. И. Машин 2004. — Т. 71, № 3. — С. 403 — 406.
  96. П. П. Приготовление растворов для химико-аналитических работ/ П. П. Коростелев М.: АН СССР, 1962. — 310 с.
  97. А. А. Аналитическая химия бора/ А. А. Немодрук, 3. П. Каралова М.: Наука, 1964. — 283 с.
  98. Ю. В. истые химические вещества/ Ю. В. Карякин, И. И. Ангелов М.: Химия, 1974. — 407 с.
  99. Атомно-абсорбционное определение примесей в диметиламинборане/ Н. Н. Вышинский, В. Т. Демарин, Н. К. Рудневский, Л. В. Склемина // Тез. докл. ХШ Уральской конференции по спектроскопии Свердловск, 1997. -С. 9−10.
  100. В. Ф., Атомно-эмиссионный спектральный анализ ЭОС высокой чистоты и материалов на их основе В. Ф. Занозила, Н. К. Рудневский, А. Н. Туманова // Материалы особой чистоты: Межвуз. сб. -Горький, 1988. -С. 71−77.
  101. Систематические и случайные погрешности химического анализа/Лод ред. М. С. Черновьянц. М.: ИКЦ «Академкнига», 2004. — 157 с.
  102. А. А. Аналитическая химия мышьяка/ А. А. Немодрук. М.: Наука, 1976.-244 с.
  103. Н. Г., Шапарова В. В., Штиф С. Л. Спектральное определение примесей в мышьяке, арсениде галлия и карбиде кремния // Методы анализа веществ высокой чистоты М., 1965. — С. 224−228.
  104. В. М. Спектральное определение примесей в мышьяке, арсениде галлия и карбиде кремния В. М. Масленникова, Л. В. Романова // Там же. С. 228 — 230.
  105. Г. А. Спектральный метод определения микропримесей в арсениде галлия с предварительным обогащением/ Г. А. Катаев, 3. И. Отмахова// Журн. аналит. химии. 1963. — Т. 18, вып. 3. — С. 339−341.
  106. А. И. Химико-спектральное определение хрома, свинца и никеля в мышьяке/ А. И. Маслова, И. В. Трофимов, Л. В. Романова, Л. М. Новоселова// Заводск. лаборатория. 1982. — № 5. — С. 6 — 7.
  107. Joschi В. D. Spectrochemical determination of impurities in arsenic/ B. D. Joschi, A. G. I. Dalvi, T. R. Bangia //Z. Anal. Chem. -1973. Bd 226, No 2. -S. 125−126.
  108. Mack D. L. The spectrographic determination of trace impurities in arsenic/ D. L. Mack //Analist. V. 88, № 1047. — 1963. — P. 481 — 482.
  109. Mack D. L. The spectrographs determination of silicon and other impurities in gallium arsenide/ D. L. Mack // Analist. 1962. — V. 87, № 1039. — P. 778 -785.
  110. А. Д. Спектральный метод анализа технического селена и теллура/ А. Д. Гутько, Н. И. Панкратова, 3. Н. Козяева, Т. В. Ткачева // Спектроскопия М., 1968. — С. 88 — 91.
  111. В. И. Спектральное определение примесей в селенидах галлия и индия/ В. И. Грамацкий// Заводск. лаборатория. 1972. — № 2. -С.145 -146.
  112. И. Н. Определение примесей в теллуриде и селениде свинца/ И. Н. Быкова, Т. С. Манова, А. А. Федорович // Методы анализа хим. реактивов и препаратов -1979. С. 46 — 48.
  113. А. Н. Спектральный анализ селена высокой чистоты/ А. Н. Богоявленская, Е. Б. Геркен, В. В. Полякова // Сб. научн. тр. Гос. н и. ин-т цвета, мет. — М., 1968. — № 28. — С. 138 -147.
  114. В. Г. Определение примесей в селениде ртути/ В. Г. Типцова, А. Г. Дворцан, Э. И. Малкина // Журн. аналит. химии. 1968. — Т. 23, № 2. -С. 1863−1866.
  115. В. В. Спектральный анализ селена и теллура всех марок по унифицированным стандартным образцам/ В. В. Полякова, Н. И. Молоствова // Рентгеновский и эмиссионный спектральный анализ. М., -1965.-С. 29−30.
  116. М. О влиянии параметров возбуждения на чувствительность определения примесей в селене высокой чистоты/ М. Мюнкс // Заводск. лаборатория. -1968. Т. 34, № 2. — С. 165 — 169.
  117. В. JI. Спектрохимический метод определения примесей в селене/ В. JI. Гинзбург, Н. П. Глуховецкая, Н. Н. Данилова // Журн. аналит. химии. 1962. — Т. 17, № 9. — С. 1096 — 1100.
  118. Фраткин 3. Г. Химико-спектральное определение примесей в элементарном селене/ 3. Г. Фраткин, Н. Г. Поливанова // Методы анализа хим. реактивов и препаратов/ М., 1966. Вып. 12. — С. 21 — 24.
  119. Cruseanu Е. Analiza spectrochimica a impuritatilor din seleniul de mare puritate pentru semiconductori/ E. Cruseanu, V. Bartos, G. Mozes // VII Sesiune comun. tehn.-stiint. Sek. 4/ Bucuresti, 1970. P. 1−14.
  120. Joshi B. D. Spectrographs estimation of impurites in selenium/ B. D. Joshi, T. R. Bangia, A. G. J. Dalvi //Z. Anal. Chem. 1972. — V. 260, № 2. — P. 107 -110.
  121. Bangia T. R. Spectrographs estimation of Ga, In fiid T1 in semiconductor grade selenium/ T. R. Bangia, B. D. Joschi // Z. Anal. Chem. 1977. — V. 283, No 3.-P. 191−193.
  122. Экстракционно-спектральное определение примесей в селене/ Е. А. Кучкарева, А. Г. Крешков, В. Я. Давыдова, Н. Ф. Заводская // Заводск. лаборатория. Т. 42, № 8. — С. 1335 — 1338.
  123. Р. В. Исследование матричного эффекта при атомно-эмиссионном определении примесных элементов в мышьяке и его соединениях с использованием концентрирования / Р. В. Лебедева, А. Н.
  124. , Н. И. Машин // Журн. аналит. химии. 2003. — Т. 58, № 5. — С. 510−512.
  125. Т.Е. Спектральное определение металлов в сточных водах. Т. Е. Моргулис, А. И. Кузнецова, Я. Д. Райхбаум // Заводск. лаборатория. -1977. Т.43, № 4. — С.429−432.
  126. О. П. К вопросу о механизме дугового разряда/ О. П. Семенова // Изв. АН СССР. 1946. Т. 51, № 9. — С. 683 — 686.
  127. Capdevi la С. Determinacion espectrografica cuatitativa de trazas de magneso en oxido ferrico / Capdevi la С., M. Roca // An quim. 1968. — V. 64, № 5. -P. 439−445.
  128. M. А. Некоторые особенности определения примесей в окиси железа спектрографическим методом/ М. А. Буравлева, Н. Ф. Захария, В. А. Пашковская // Журн. приют, спектроскопии. 1975. Т. 23, вып. 1. — С. 5−9.
  129. Г. П. Определение примесей в окиси железа/ Г. П. Бознякова, М. Д. Широкова // Методы анализа химических реактивов и препаратов. М.: ИРЕА. — 1973. — Вып. 21. — С. 38−39.
  130. М. А. К вопросу спектрографического определения примесей в сырье для ферритов/ М. А. Буравлева, В. А. Пашковская// Методы получения и анализа ферритов и сырья для них. Харьков, 1975. -С. 141−145.
  131. Morello В. Spectrographic determination of trace elements in ferrous materials/ B. Morello, P. De Gregorio, G. Savantano // Appl. Spectrosc. 1974. -V. 28, No 1.-P. 14−23.
  132. . А. Определение примесей алюминия, кобальта, кремния, магния, марганца, никеля, титана, свинца, хрома в оксидах железа ч.д.а. / Ж. А. Мамот // Методы анализа материалов для электронной техники. -М., 1983.-С. 169−170.
  133. Koziorowska L. Oznaczanie skladu chemicznego przedmiotow zabutkowych z zelaza metoda spectrograficzna/ L. Koziorowska // Chem. Anal. 1977. 22, № 3.-567−570.
  134. В. A. Спектрографическое определение цинка, меди, стронция и никеля в гидрате окиси железа/ В. А. Жоров, И. П. Палаш // Морские гидрофизические исследования.: Сб. ст. Севастополь, 1975. № 4. — С. 204−207.
  135. Т. А. Унифицированный метод атомно-эмиссионного спектрального анализа объектов разной природы/ Т. А. Чанышева, И. Р. Шелпакова // Аналитика и контроль. 2002. — Т. 6, № 3. С. 298 — 306.
  136. Экстракционно-спектральное определение микропримесей в сталях/ Н. П. Кривенкова, JI. И. Павленко, Б. Я. Спиваков и др. // Журн. аналит. химии. 1976. — Т. 31, № 3. — С. 514- 520.
  137. Атомно-эмиссионное определение примесей в ферроцене/ Н. В. Ерыкалина, Е. Н. Каратаев, М. И. Крылова и др. // Журн. прикл. спектр. -1993. Т. 58, № 5 — 6. — С. 433 — 435.
  138. О. И. Спектральный анализ стали и чугуна на содержание остаточных элементов/ О. И. Никитина, Н. К. Иванова// Заводск. лаборатория. -1964. Т. 30, № 1. — С. 46 — 47.
  139. М. А. К вопросу о спектральном анализе карбоната и сульфата марганца/ М. А. Буравлева, Н. Г. Кисель, С. И. Смутко // Журн. аналит. химии. -1976. Т. 31, № 9. — С. 1726−1730.
  140. . П.0 спектральном определении содержаний компонент в силикомарганце/ Б. П. Базовкин, Г. М. Бухтоярова, А. И. Стратийчук// Журн. прикл. спектроскопии. 1976. — Т. 24, № 5. — С. 915−917.
  141. . М. Методика количественного спектрального определения никеля в марганцевых рудах/ Б. М. Гейдман// Геол. и рудоностность Украины. 1979. -№ 8. -С.119−121.
  142. . Б. Спектральное определение никеля и кобальта в марганцевых рудах/ Б. Б. Богачева, К. 3. Финкин, Л. С. Колосова //Заводск. лаборатория. -1971. Т. 37, № 8. — С. 933.
  143. В. Г. Спектральный анализ марганца методом испарения в воздухе/ В. Н. Музгин, Л. А. Гладышева// Заводск. лаборатория. 1968. -Т. 34,№ 9.-С. 1076−1077.
  144. А. В. О влиянии термической стойкости соединений при анализе ферросплавов/ А. В. Козлова// Мат-лы третьего Уральского совещания по спектроскопии. Свердловск, 1962. — С.42−43.
  145. В. П. Спектральный анализ марганцевой руды, титанового концентрата и наплавленного металла/ В. П. Щеблева// Там же. С. 125.
  146. Н. Л. Об одном эффекте влияния состава проб на интенсивность линий элемента-примеси/ Н. Л. Лонцих, Е. В. Смирнова, Я. Д. Райхбаум // Прикладная спектроскопия. М.: Изд-во АН СССР. — 1977. -С. 216−218.
  147. Н. Л. Влияние неупругих столкновений электронов с атомами матрицы на интенсивность спектральных линий примеси/ Н. Л. Чумакова, И. А. Кринберг, Е. В. Смирнова // Журн. прикл. стар. 1983. -Т. 39,№ 6.-С. 899−905.
  148. В. В. Об одной форме влияния состава проб при эмиссионном спектральном анализе/В. В. Недлер, А. А. Шнетке, А. А. Пупышев// Журн. аналит. химии. 1980. — Т. 35, вып. 11. — С. 2080 — 2082.
  149. А. В. О механизме влияния катионов носителей на интенсивность спектральных линий микроэлементов в атомно-эмиссионном спектральном анализе/ А. В. Карякин, JI. П. Штепа // Журн. прикл. спектр. 1991. — Т. 54, № 1. — С. 18 — 21.
  150. А. В. Механизм действия матрицы (макрокомпонентов) при атомно-эмиссионном определении микроэлементов/ А. В. Карякин, JI. В. Симонова// Журн. аналит. химии. -1992. Т. 47, вып. 2. — С. 312 — 318.
  151. Оничева (Лебедева) Р. В. Эффект влияния матрицы при атомно-эмиссионном определении токсичных примесей в соединениях железа / Р. В. Оничева// IV Конференция молодых ученых-химиков г. Нижнего Новгорода.: Тез. докл./ Нижний Новгород, 2001. С. 35 — 36.
  152. Оничева (Лебедева) Р. В., Влияние матричного компонента при атомно-эмиссионном определении примесных элементов в соединениях железа и марганца/ Р. В. Лебедева, Н. И. Машин, А. Н. Туманова// Тез. докл. ХХП Съезда по спектроскопии. М., 2001. — С. 53.
  153. Р. В. Исследование матричного влияния при атомно-эмиссионном определении примесей в марганце и его соединениях/ Р. В. Лебедева, А. Н. Туманова, Н. И. Машин// Журн. прикл. спектр. 2003. -Т. 70, № 6.-С. 845 — 847.
  154. Р. В. Исследование матричного влияния при атомно-эмиссионном определении примесей в железе и его соединениях/ Р. В. Лебедева, А. Н. Туманова, Н. И. Машин// Журн. аналит. химии. 2004. — Т. 59, № 3.-С. 250−253.
  155. Е. Ф. К вопросу о механизме взаимодействия частиц в плазме разряда/ Е. Ф. Козырева// Опт. и спектроскопия. -1957. № 2. — С. 41 — 43.
Заполнить форму текущей работой

Сдать сессию!